Organizado por: yoComité de Cooperación Internacional de la Alianza de Tecnología Industrial de Inspección y Certificación de Zhongguancun
Organizado por:Tecnología de medición y control Tai'an PANRAN Co., Ltd.
El 18 de mayo a las 13:30, se celebró, según lo programado, el "Informe temático del Día Mundial de la Metrología 520", organizado en línea por el Comité de Cooperación Internacional de la Alianza de Tecnología Industrial de Inspección y Certificación de Zhongguancun y organizado por Tai'an Panran Measurement and Control Technology Co., Ltd. El presidente de la alianza, Yao Hejun (Decano del Instituto de Supervisión e Inspección de Calidad de Productos de Beijing), Han Yu (Director de Desarrollo Estratégico del Grupo CTI), Presidente del Comité Especial de la Alianza, Zhang Jun (Presidente de Taian Panran Measurement and Control Technology Co., Ltd.), Vicepresidente del Gerente del Comité Especial de la Alianza) y más de 120 unidades miembro de la alianza, casi 300 personas participaron en la reunión del informe.
La reunión de informe se celebró para celebrar el importante festival internacional del Día Mundial de la Metrología 520. Al mismo tiempo, coincidió con las "Actividades del Año de Alta Tecnología del Comité Especial", lanzadas por el Comité de Cooperación Internacional de la Alianza en 2023.
Li Wenlong, inspector de segundo nivel del Departamento de Acreditación e Inspección y Supervisión de Pruebas de la Administración Estatal de Regulación del Mercado, Li Qianmu, vicepresidente de la Asociación de Ciencia y Tecnología de Jiangsu, académico extranjero ruso, profesor Li Qianmu, ingeniero superior (doctor) Ge Meng del Centro de I + D 102 y el Instituto 304 Wu Tengfei, investigador jefe adjunto (doctor) del laboratorio clave, Zhou Zili, ejecutivo superior e investigador del Instituto de Investigación Aeronáutica de China, ex subdirector del Instituto 304, Hu Dong, ingeniero superior (doctor) del instituto 304, y muchos expertos en el campo de la metrología y la inspección, compartiendo sus resultados de investigación y experiencia nos permiten comprender mejor la importancia y la aplicación de la medición en la sociedad moderna.
01 Parte del discurso
Al comienzo de la reunión, Yao Hejun, presidente de la alianza, Han Yu, presidente del comité especial de la alianza, y Zhang Jun (organizador), vicepresidente del comité especial de la alianza, pronunciaron discursos.
YAO HE JUN
El presidente Yao Hejun felicitó a la Alianza Tecnológica de la Industria de Inspección, Pruebas y Certificación de Zhongguancun por la celebración de esta reunión y agradeció a todos los líderes y expertos por su apoyo y dedicación a largo plazo a la labor de la alianza. El presidente Yao señaló que el Comité Especial de Cooperación Internacional de la Alianza se adherirá siempre al concepto de desarrollo connotativo de basarse en el progreso científico y tecnológico para impulsar la construcción de un país fuerte, y continuará profundizando el papel de la innovación científica y tecnológica en la conducción e impulso de la demostración.
Este año es el año de la alta tecnología del Comité Especial de Cooperación Internacional de la Alianza. El comité especial planea organizar un seminario internacional sobre mecánica cuántica y metrología, invitar al presidente del Comité Internacional de Metrología a visitar China y celebrar diversas actividades, como la reunión de constitución del comité especial. El comité especial espera construir una plataforma internacional para lograr el intercambio de información, los intercambios amplios y el desarrollo común, atraer talentos destacados nacionales e internacionales, y servir a las empresas de inspección, pruebas, certificación y fabricación de instrumentos y equipos con una visión, estándares y mentalidad internacionales, y lograr la consulta mutua, el desarrollo y el beneficio mutuo.
HAN YU
El director Han Yu explicó que el establecimiento del comité especial se basa en tres aspectos: primero, es una plataforma integral que integra calibración de medición, normas, inspección y certificación de pruebas, y fabricantes de instrumentos, y constituye una plataforma de medición de gran alcance. Esta plataforma integra producción, educación, investigación y aplicación. segundo, es una plataforma internacional de intercambio de información sobre la industria de alta tecnología, que transmite los conceptos más avanzados a nivel internacional y las tendencias de investigación científica de la industria de la metrología y las pruebas. En 2023, el comité especial realizó una gran cantidad de investigación científica y compartió información de vanguardia. tercero, es la plataforma con el mayor grado de interacción y participación entre sus miembros. Ya sea en calibración de medición, normas, inspección y certificación, o fabricantes de instrumentos, cada miembro puede encontrar su propia posición y mostrar su capacidad y estilo.
A través de esta plataforma integral, se espera que los talentos nacionales en medición y calibración, normas, inspección y certificación de pruebas, diseño de instrumentos, I+D y fabricación puedan reunirse para estudiar y discutir conjuntamente la dirección de desarrollo y las tecnologías de vanguardia de la industria de inspección y pruebas, y contribuir al progreso tecnológico de la industria.
ZHANG JUN
Zhang Jun, subdirector del comité especial de la alianza para esta reunión de informes, expresó el honor de la compañía en la reunión de informes en nombre del organizador (Tai'an PANRAN Measurement and Control Technology Co., Ltd.) y expresó el respeto de la compañía por los líderes, expertos y participantes en línea. Una cálida bienvenida y un sincero agradecimiento a los delegados. PANRAN ha estado comprometida con la I+D y la fabricación de instrumentos de medición de temperatura y presión durante los últimos 30 años. Como representante de este campo, la compañía ha estado comprometida con el desarrollo internacional y ha promovido activamente la cooperación internacional. El Sr. Zhang dijo que PANRAN se enorgullece de ser la unidad de subdirectores del Comité de Cooperación Internacional de la Alianza y participará activamente en diversas tareas. Al mismo tiempo, me gustaría agradecer al comité especial por su apoyo integral y su ayuda para aprender y comprender la experiencia en la fabricación de productos de metrología internacionales.
02 Sección de Informe
El informe fue compartido por cuatro expertos, a saber:Li Wen Long, el inspector de segundo nivel del Departamento de Acreditación, Inspección y Supervisión de Pruebas de la Administración Estatal de Regulación del Mercado; ) Li Qianmu, vicepresidente de la Asociación de Ciencias de Jiangsu, académico extranjero ruso y profesor;Ge Meng, ingeniero senior (doctor) de 102 centros de I+D;Wu Tengfei, investigador jefe adjunto (doctor) de 304 laboratorios clave.
LI WEN LARGO
El director Li Wenlong, inspector de segundo nivel del Departamento de Acreditación, Inspección y Supervisión de Pruebas de la Administración Estatal de Regulación del Mercado, presentó un informe magistral sobre "El camino hacia el desarrollo de alta calidad de las instituciones de inspección y pruebas de China". El director Li Wenlong no solo es un destacado académico en la industria de inspección y pruebas de China, sino también un observador de temas de actualidad en el campo de la inspección y las pruebas, y un vigilante del desarrollo de las instituciones de inspección y pruebas de China. Ha publicado sucesivamente varios artículos en las series "En nombre del pueblo" y "El crecimiento y desarrollo de las instituciones de inspección y pruebas de China bajo el gran mercado, gran calidad y supervisión", que han tenido gran repercusión en la industria y se han convertido en la clave para el crecimiento y desarrollo de las instituciones de inspección y pruebas de China, y tienen un alto valor histórico.
En su informe, el Director Li detalló la historia del desarrollo, las características, los problemas y los desafíos del mercado (instituciones) de inspección y pruebas de China, así como su futuro desarrollo. Gracias a sus aportes, todos obtuvieron una comprensión detallada del contexto histórico y las tendencias del desarrollo de la inspección y pruebas de calidad en China.
LI QIAN MU
En el contexto actual del big data, el proceso de informatización de la industria metrológica ha experimentado un rápido desarrollo y progreso, mejorando la recopilación y aplicación de datos metrológicos, maximizando su valor y proporcionando tecnologías favorables para el desarrollo y la innovación en tecnología metrológica. El profesor Li Qianmu, vicepresidente de la Asociación Provincial de Ciencia y Tecnología de Jiangsu y académico extranjero ruso, presentó el informe "Recopilación y análisis del tráfico de red a gran escala". En el informe, mediante la descomposición de los cinco contenidos de investigación y el proceso de integración tecnológica, se presentan los resultados de la recopilación y el análisis del tráfico.
GEMENG
WU TENG FEI
Con el fin de permitir que los profesionales en el campo de la medición comprendan el progreso de la investigación teórica básica en el campo de la medición y compartan el concepto y la experiencia de la frontera internacional en el campo de la metrología, el Dr. Ge Meng del 102.º Instituto y el Dr. Wu Tengfei del 304.º Instituto dieron informes especiales, mostrándonos el impacto de la mecánica cuántica en la medición.
El Dr. Ge Meng, ingeniero sénior del Instituto 102, presentó un informe titulado "Análisis del desarrollo de la mecánica cuántica y la tecnología de metrología". En el informe, se presentaron la connotación y el desarrollo de la metrología, la mecánica cuántica y la metrología cuántica, así como el desarrollo y la aplicación de la tecnología de metrología cuántica, se analizó el impacto de la revolución cuántica y se consideraron los problemas de la mecánica cuántica.
El Dr. Wu Tengfei, subdirector e investigador del Laboratorio Clave 304, presentó un informe titulado "Discusión sobre diversas aplicaciones de la tecnología de frecuencia láser de femtosegundo en el campo de la metrología". El Dr. Wu señaló que el peine de frecuencia láser de femtosegundo, como importante dispositivo estándar que vincula la frecuencia óptica y la radiofrecuencia, se aplicará a más campos en el futuro. En el futuro, continuaremos realizando investigaciones exhaustivas en el campo de la metrología y la medición multiparamétricas basándonos en este libro de frecuencias, desempeñando un papel más importante y contribuyendo en mayor medida al rápido avance de los campos de la metrología relacionados.
03 Sección de entrevistas de tecnología de metrología
Este informe invitó al Dr. Hu Dong, ingeniero senior de 304 Institutos, a realizar una entrevista exclusiva con Zhou Zili, ejecutivo senior del Instituto de Investigación Aeronáutica de China, sobre el tema "La importancia de la teoría de la mecánica cuántica para el desarrollo del campo de medición" en la investigación de la mecánica cuántica.
El entrevistado, el Sr. Zhou Zili, es alto ejecutivo e investigador del Instituto de Investigación Aeronáutica de China y ex subdirector del 304.º Instituto de la Industria de Aviación de China. El Sr. Zhou ha participado durante mucho tiempo en la integración de la investigación científica y la gestión metrológica. Ha dirigido diversos proyectos de investigación científica metrológica, en particular el proyecto "Monitoreo de la Conexión de Tubos Inmersos del Proyecto del Túnel Puente de la Isla Hong Kong-Zhuhai-Macao". El Sr. Zhou Zili es un reconocido experto en metrología. En este informe, el Sr. Zhou realizó una entrevista temática sobre mecánica cuántica. La combinación de las entrevistas nos permitirá comprender mejor la mecánica cuántica.
El profesor Zhou ofreció una explicación detallada del concepto y la aplicación de la medición cuántica, introdujo los fenómenos y principios cuánticos paso a paso desde el entorno cotidiano, explicó la medición cuántica de forma sencilla y, mediante la demostración de la iteración cuántica, el entrelazamiento cuántico, la comunicación cuántica y otros conceptos, reveló la dirección de desarrollo de la medición cuántica. Impulsado por la mecánica cuántica, el campo de la metrología continúa desarrollándose. Está transformando el sistema de transmisión de masa existente, posibilitando la transmisión cuántica plana y los estándares de metrología basados en chips. Estos avances han brindado oportunidades ilimitadas para el desarrollo de la sociedad digital.
En la era digital, la metrología cobra mayor importancia que nunca. Este informe analizará en profundidad la aplicación y la innovación del big data y la mecánica cuántica en diversos campos, y nos mostrará el rumbo futuro del desarrollo. Al mismo tiempo, nos recuerda los desafíos que enfrentamos y los problemas que requieren solución. Estos debates y perspectivas tendrán un impacto importante en la investigación y la práctica científicas futuras.
Esperamos seguir manteniendo una cooperación activa y los intercambios para promover conjuntamente el desarrollo de la metrología. Solo mediante nuestros esfuerzos conjuntos podremos contribuir significativamente a la construcción de un futuro más científico, justo y sostenible. Sigamos compartiendo ideas, intercambiando experiencias y creando más oportunidades.
Finalmente, queremos expresar nuestro más sincero agradecimiento a todos los ponentes, organizadores y participantes. Gracias por su arduo trabajo y apoyo para el éxito de este informe. Permítanos difundir los resultados de este evento entre un público más amplio y dar a conocer al mundo el encanto y la importancia de la ciencia cuantitativa. ¡Esperamos volver a reunirnos en el futuro y crear juntos un futuro más brillante!
Hora de publicación: 23 de mayo de 2023
